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Zeitschriftenartikel:

M. Mayer:
"Bauelemente-Charakterisierung in der Mikrowellentechnik";
TM - Technisches Messen, vol. 68, issue 4 (2001), S. 182 - 187.



Kurzfassung deutsch:
Zum zielsicheren Entwurf von Mikrowellenbaugruppen bei Großsignalaussteuerung, wie z.B. Leistungsverstärkern, ist es unumgänglich, das physikalische Verhalten der verwendeten Bauelemente möglichst genau und vollständig zu kennen. Besonderes Augenmerk ist dabei auf das zentrale Element dieser Schaltungen, den Transistor, zu legen, der durch seine nichtlinearen Eigenschaften das Verhalten des endgültigen Verstärkers wesentlich beeinflusst. Dieser Artikel gibt einen Überblick über aktuelle Methoden zur messtechnischen Erfassung dieser Eigenschaften. Im Weiteren wird ein Messsystem für das Verhalten von Leistungstransistoren in einem Frequenzbereich von DC bis 8,7 GHz bei Biasströmen bis zu 7,5 A unter Berücksichtigung der Eigenerwärmung vorgestellt.

Kurzfassung englisch:
For systemtic designs of microwave subsystems with large signal excitation, e.g. power amplifiers, it is necessary to comprehensively and accurately know the physical behavior of the components used. Attention should be directed to the center components of these circuits, the power transistors, whose nonlinear characteristics have an essential impact on the behavior of the amplifier as a whole. This article gives an overview of current methods of characterization. Futhermore a measurement system is presented capable of characterizing microwave power transistors within a frequency range from DC to 8.7 GHz at bias currents up to 7.5 A including self heating effects.

Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.